IC芯片完成加工制造工序后，需要一一進行測試和分類，芯片分類存放有利于芯片的合理使用。測試分選機是將已經(jīng)通過預(yù)定制造工序制造的半導(dǎo)體裝置電連接至測試器并且根據(jù)測試結(jié)果將半導(dǎo)體裝置分類的設(shè)備。

    最初，人們對芯片測試后，是靠人工分類放置的，不僅效率低，還容易發(fā)生錯誤?，F(xiàn)有技術(shù)中已有自動測試分選機，例如專利公開號：CN 102698969 A,公開日：2012年10月03日，發(fā)明創(chuàng)造名稱為：一種IC芯片自動測試分選機，該申請案公開了一種IC芯片自動測試分選機，包括可將堆積的實料盤逐一分離的上料實托盤分離輸入裝置，和料船模組裝置。

    包括受控于伺服電機左右擺動的用于放置待測芯片的左料船和用于放置測試后芯片的右料船；用于放置右料船中測試合格芯片的合格品分類收集模組，以及用于放置測試不合格芯片的次品分類收集模組。將待測試和分選的滿托盤芯片經(jīng)過托盤分離輸入裝置自動輸入到位，經(jīng)上料抓手平臺裝置逐一轉(zhuǎn)送到料船。

    測試抓手組合模組裝置將左料船上待測芯片準確吸住并移入測試位接受測試，再放回右料船進一步將測試后的芯片送到分類選方位，由下料分選抓手平臺裝置根據(jù)測試結(jié)果分類放入相應(yīng)的成品托盤或者次品托盤中，滿盤后再有序送出機外。但該申請案的測試分選機和現(xiàn)有技術(shù)中大多數(shù)測試分選機一樣，測試分選品種規(guī)格單一，即一種機器只能測試分選一種芯片，不能滿足當(dāng)今芯片品種規(guī)格多、分類細的要求。綜上所述，如何克服現(xiàn)有IC芯片測試分選設(shè)備測試分選的產(chǎn)品規(guī)格單一的缺陷，是現(xiàn)有技術(shù)中亟需解決的技術(shù)問題。